(滚边)卷边紧缩场反射面

产品介绍

卷边反射面更适于高精度，低副瓣的天线和RCS测量。

ALB-CATR 系列是安特磊博针对天线和RCS的紧缩场测量系统，能为天线和毫米波雷达测试设计搭建实验环境。 主要应用于各种天线和器件的增益、极化、轴比的测量，还包括汽车雷达及其组件测试，毫米波军用/警用雷达产品测试，民用毫米波天线测试（毫米波反射面天线、5G毫米波通信天线）。
ALB-CATR系列适用于各种毫米波雷达测试，系统采用整体式卷边反射面表面精度＜5-30um（RMS），相较常规锯齿反射面更加节省空间。同时采用偏置馈源设计，同时适用于有源和无源测试，会在一定的纵向距离内形成一个椭圆状静区空间，使用网络分析仪或频谱分析仪及对应的扩频组件，均可进行（有源/无源）测试。配备多维承物转台，根据用户需要定制测试工装和电动辅助轴,可自由选择当下所需要测试的截面。使用需搭配全屏蔽无反射微波暗室，配备可调馈源夹具及对应频段波纹喇叭馈源。同时兼备可移动式基座，方便用户安置及部署。

适用对象:
1. 各种天线和RCS测量;
2. 雷达;
3. 毫米波探测装置.

测试模式:  适用有源/无源
适用被测物尺寸: ≤设计静区尺寸

测试配置 :
1. 无源测试使用网络分析仪及对应的扩频组件
2. 有源测试使用频谱分析仪及对应的扩频组件

ALB-CATR
测试能力
频率范围：0.3GHz~ 110/200/500GHz；
静区幅度锥削：≤±1dB
静区幅度起伏：≤±1dB
静区相位总变化：≤±5°到≤±10°
反射面投影尺寸：0.3m/1m/2m......各种尺寸
反射面精度（RMS）：<5-30um
测试范围：天线（模块）的辐射性能和飞机的RCS；
测试项目：（1）被测物有源/无源方向图    （2）被测物有源及无源增益    （3）交叉极化分辨率
（4） 各类移动标准通信制式     （5）雷达目标模拟                   （6）RCS测试  （7）方向图

系统配置
整体式卷边反射面表面精度＜5-30um（RMS），相较常规锯齿反射面更加节省空间；
一维承物转台，可根据用户需要定制测试工装和电动辅助轴；
全屏蔽无反射微波暗室；
可调馈源夹具及对应频段波纹喇叭馈源；
可移动式基座，方便用户安置及部署；

系统参数
根据用户对不同静区尺寸的需求可以提供1米~50米投影口径的反射面供选择，可以提供0.5米~25米的静区。

北京安特磊博科技有限公司推出：

紧缩场频率范围：0.3-500GHz

0.3m，0.6m，1m，2m，5m，6m，20m等紧缩场暗室。

静区：0.15/0.3/0.5/0.8/1/2.5/3/10m等各种静区。

边缘加工方式：卷边和锯齿，两种处理方式。

紧缩场反射面具有高刚度重量比

高温度系数

振幅taper ：1dB

振幅波动：正负0.5dB

相位：正负5度（小于40GHz）

ALB-AS-05300-1.5

150*150

90*90

2-5-300

1dB

+/-0.5dB

＜100

30

ALB-AS-04110-0.9	90*90	30*30	4-110	1dB	+/-0.5dB	<100	30
ALB-AS-03110-1.5	150*150	70*70	3-110	1dB	+/-0.5dB	<100	30
ALB-AS-03110-2.4	240*240	100*100	3-110	1dB	+/-0.5dB	<100	30

还有 汽车雷达专用的紧缩场主面，频率20-77GHz，0.3m口径，测试15cm以内的各种汽车雷达天线。

正在加工中的1m卷边紧缩场主面